膜厚計工作原理
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膜厚鍍層的測量勉強可以稱為長度量測的一種
,
但實際上它的工作原理和測量方法與一
般的長度測量是不一樣的。
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目前膜厚計測的要求有日漸增多的趨勢
,
這是由于涂膜已不再只是美化材料表
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面或防腐的功能而已
,
一些新的電器、電子
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產品
,
都是利用涂膜的工件來擔任一些重大
的工作
,
因此膜厚的計測非常值得我們重視。
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膜厚計可分為破壞式及非破壞式兩種。依其針對的測量對象不同而有所區別。一般而
言
,
膜厚測量有以下幾種場合
:
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1.
底材為磁性金屬
,
而涂膜為非磁性金屬
:
例如鋼板在加工工廠加工、割切、
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焊接時
,
須噴涂一層底漆
(Shop?PAINTING)
。
而此層涂漆如果太厚
,
非但耗費
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漆材
,
而且嚴重防礙割切
,
焊接等工作的進行
,
但如果噴涂太薄
,
又容易導致鋼
?
板生銹
,
以致影響施工品質。
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2.
底材為非磁性金屬涂膜亦為非磁性金屬
:
例如照相用底片為塑料材料
,
而其感光膜亦
為非金屬材料。
(
例如鹵化銀
),
測量膜厚主要是作為底片生產品質的控制
,
膜厚直接影響底片
沖洗的時間及影像的清晰度。
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3.
底材為磁性金屬而涂膜亦為磁性金屬
:
例如電鍍即是
,
鍍膜膜厚通常與電鍍時間有關
,
而鍍膜是否均勻則依賴生產技術的改良
,
這時候便須有良好的膜厚計來加以檢驗了。
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4.
底材為非磁性金屬而涂膜為磁性金屬
:
噴敷技術或電鍍時先將底材表面金屬化
,
或是
蒸鍍
?,
都可達成此一任務
,
產品的例子如全反射面鏡
,
抗反射玻璃等等。
有時因品質要求嚴格
,
其膜厚精度甚至控制在數
?n?m?
左右。
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現介紹各種不同的膜厚計測儀器如下
:
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1.
破壞式膜厚計
:
利用鉆石刀將底材連同膜厚截斷
,
然后將斷面置于光學顥微鏡檢查
,
其
斷面斜度有
30
度斜角
,60
度斜角及
45
度斜角的分別，亦有采用
90
度切斷檢查者。
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2.
光學橢圓儀
:
其原理是利用分光的技術
,
由于不同材料有不同折射率的特性
?,
因此求
得膜厚
,
其儀點為精度高
,
不論膜厚薄至數
?n?m?,
也可以量取
,
但是缺點是價格較貴。
1.破壞式膜厚計:利用鉆石刀將底材連同膜厚截斷,然后將斷面置于光學顥微鏡檢查,其斷面斜度有30度斜角,60度斜角及45度斜角的分別，亦有采用90度切斷檢查者。 ?
2.光學橢圓儀:其原理是利用分光的技術,由于不同材料有不同折射率的特性 ,因此求得膜厚,其儀點為精度高,不論膜厚薄至數 n m ,也可以量取,但是缺點是價格較貴。