SWT-7000III膜厚計
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SANKO山高SWT-7000III膜厚計
SWT系列探頭可互換。
◆ 兩用型 : FN-325
◆ 鐵材用 : Fe 系列
◆ 非鐵材 : NFe 系列
電磁式/渦電流式膜厚計
SWT-7000Ⅲ/7100Ⅲ 探頭可互換。簡易測量。
●可根據用途來選擇探頭。
●輕巧簡便。
●在LCD畫面上顯示操作的順序指引。
●4個按鍵，操作簡單。
●可連接電腦進行數據的傳送。（7100Ⅲ）
用 途
●涂層/襯層/鍍金
●耐酸層等絕緣性皮膜
規 格
測量范圍 連接探頭不同而不同（另賣）
顯示方式 LCD畫面
檢量線校正 2點校正式
檢量線存儲 鐵·非鐵各一根
數據傳送 USB（7100Ⅲ）
電 源 單3電池（1.5V）×2
專用電源線（7100Ⅲ）
附帶自動關機功能
使用溫度 0～40C°(不結露)
尺寸重量 72（W）×30（H）×156（D）mm
約210g
附 屬 品 收納袋
7100Ⅲ：專用電源線
USB連接線、USB軟件
探 頭 根據測量金屬底材來選擇。
·鐵底材用（Fe）
·非鐵底材用（NFe）
·鐵底材·非鐵底材兩用（FN-325）
(請參照專用探頭頁)
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探測頭型號 |
FN-325 |
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測量方式 |
電磁式·渦電流式兩用（鐵·非鐵底材自動識別） |
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測量范圍 |
鐵底材：0～3.00mm、非鐵底材：0～2.50mm |
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表示分辨率 |
1μm：0～999μm的切換（鐵·非鐵共通） 0.1μm：0～400μm（鐵·非鐵共通） 0.5μm：400～500μm（鐵·非鐵共通） 0.01mm:1.00～3.00mm（鐵底材） 0.01mm:1.00～2.50mm（非鐵底材） |
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測量精度 （平滑表面） |
0～100μm：:1μm（鐵·非鐵共通） 或者是指示值的±2%以內 101μm～3.00mm:±2%以內（鐵底材） 101μm～2.50mm:±2%以內（非鐵底材） |
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探測部 |
1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g |
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選擇產品 |
V形探測頭套有3種（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用） |
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附屬品 |
標準校正板、試驗用零校正板、（鐵用·非鐵用） |
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測量對象 |
鐵底材：鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、 電鍍（電解鎳除外）等 非鐵底材：鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等 一般較普遍的測量物用 |
SWT-7000Ⅲ系列機型
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機型 |
SWT-7000Ⅲ |
SWT-7100Ⅲ |
SWT-7200Ⅲ |
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測量范圍 |
連接的探測頭不同測量范圍也不同。 |
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顯示方式 |
液晶顯示LCD（數據·提示信息）、背光燈 |
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檢量線校正 |
2點校正方式（零校正、標準校正） |
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檢量線存儲 |
鐵、非鐵各1根 |
10根 |
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測量值存儲 |
— |
20,000點 |
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數據傳送 |
— |
USB |
USB |
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統計功能 |
— |
— |
內藏 |
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附加功能 |
●背光燈 ●測量模式的切換（普通／連續） ●檢量線、校正值的刪除 ●自動關機功能（約3分以上不操作時，機器會自動關機） ●分辨率的切換 ●上下限值的設定（SWT-7200Ⅲ） |
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電源 |
單3電池 ×2 |
單3電池 ×2 專用電源線 |
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使用溫度 |
0～40C°（不結露） |
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機體尺寸·重量 |
72（W）×30（H）×156（D）mm、 重量 210g |
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附屬品 |
干電池、收納袋子 |
干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件（CD） |
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追加產品 |
鐵材金屬用探測頭（Fe）、非鐵材金屬用探測頭（NFe） 鐵·非鐵材用探測頭（FN-325） |
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SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭（1）（Fe）
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型號 |
Fe-2.5/2.5L |
Fe-2.5LwA |
Fe-0.6Pem |
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測量方式 |
電磁感應式 |
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測量范圍 |
0～2.50mm |
0～600μm |
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表示分解率 |
1μm：0～999μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.50mm |
1μm：0～600μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm |
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測量精度 （平滑面） |
0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的±2%以內 101μm～2.50mm：±2% |
0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的±2%以內 101μm～600μm：±2% |
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探測部 |
1點定壓接觸式 V形口套頭 2.5：φ13×48mm 2.5L:18×23×67mm |
1點定壓接觸式 測量部：約20×57mm 全長：約550～ 1.550mm （伸縮式） |
1點定壓接觸式 Φ5.6×94mm |
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選擇產品 |
V形套頭/— （φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用） |
— |
— |
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附屬品 |
標準校正片 試驗用零校正板 （鐵用） |
標準校正片 試驗用零校正板（鐵用） 收納袋子 |
標準校正片 試驗用零校正板 （鐵用） |
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測量對象 |
鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層（電解鎳的電鍍層除外）等等 |
鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。 |
鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。 |
SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭（2）（Fe）
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型號 |
Fe-10 |
Fe-20 |
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測量方式 |
電磁感應式 |
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測量范圍 |
0～10mm |
0～20mm |
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表示分解率 |
1μm：0～999μm 0.01mm:1～10mm |
1μm：0～999μm 0.01mm:1～5mm 0.1mm:5～20mm |
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測量精度 （平滑面） |
0～3mm：±（5μm＋顯示值的3%） 3.01mm：顯示值的±3% |
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探測部 |
1點定壓接觸式 V形口套頭 φ18×47mm |
1點定壓接觸式 V形口套頭 φ35×59mm |
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選擇產品 |
— |
— |
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附屬品 |
標準校正片、試驗用零校正板（鐵用） |
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測量對象 |
鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用 |
鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用 |
探測頭要根據需要購買。
SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭（NFe）
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型號 |
NFe-2.0/NFe-2.0L |
NFe-06 |
NFe-8 |
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測量方式 |
渦電流式 |
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測量范圍 |
0～2.00mm |
0～600μm |
0～8mm |
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表示分解率 |
1μm：0～999μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.00mm |
1μm：0～600μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm |
1μm：0～999μm 0.01mm：1～8mm |
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測量精度 （平滑表面） |
0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的 ±2%以內 101μm～2.00mm： ±2%以內 |
0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的 ±2%以內 101μm～600μm： ±2%以內 |
0～100μm:±1μm ±（±1μm＋顯示值的±2%） 101μm～8mm： ±2%以內 |
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探測部 |
1點定壓接觸式 V形口套頭 2.0：φ13×47mm 2.0L：18×23×67mm |
1點定壓接觸式 V形口套頭 φ11×48mm |
1點定壓接觸式 V形口套頭 φ35×61mm |
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選擇產品 |
V形套頭/- |
－ |
－ |
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附屬品 |
標準校正片、試驗用零校正板（非鐵用） |
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測量對象 |
鋁、銅等非磁性金屬底材 上的絕緣性皮膜等一般普 通測量物用。 |
鋁、銅等非磁性金屬底 材上的絕緣性皮膜等 細小的圓棒、細管、小 物件等的高安定性用。 |
鋁、銅等非磁性金屬 底材上的絕緣性皮膜等 比較厚的測量物用。 |
探測頭要根據需要購買。